- Sections
- G - Physique
- G01B - Mesure de la longueur, de l'épaisseur ou de dimensions linéaires analogues; mesure des angles; mesure des superficies; mesure des irrégularités des surfaces ou contours
- G01B 15/08 - Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation d'ondes électromagnétiques ou de radiations de particules, p.ex. par l'utilisation de micro-ondes, de rayons X, de rayons gamma ou d'électrons pour mesurer la rugosité ou l'irrégularité des surfaces
Détention brevets de la classe G01B 15/08
Brevets de cette classe: 48
Historique des publications depuis 10 ans
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Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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Hitachi High-Tech Corporation | 4424 |
5 |
Hitachi High-Technologies Corporation | 2034 |
4 |
ASML Netherlands B.V. | 6816 |
3 |
Applied Materials Israel, Ltd. | 549 |
2 |
Hexagon Metrology, Inc. | 149 |
2 |
KLA-Tencor Corporation | 2574 |
2 |
Nireco Corporation | 52 |
2 |
Fujitsu Limited | 19265 |
1 |
Denso Corporation | 23338 |
1 |
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 36809 |
1 |
Mitsubishi Electric Corporation | 43934 |
1 |
Blue Leaf I.P., Inc. | 2758 |
1 |
Tsinghua University | 5426 |
1 |
Mitsubishi Chemical Corporation | 4313 |
1 |
Beamsense Co., Ltd. | 11 |
1 |
Building Materials Investment Corporation | 158 |
1 |
Dalian University of Technology | 1387 |
1 |
EOS GmbH Electro Optical Systems | 398 |
1 |
FARO Technologies, Inc. | 786 |
1 |
JFE Steel Corporation | 6067 |
1 |
Autres propriétaires | 15 |